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바른전자,미세구조물 잔류응력시험패턴 특허 취득

파이낸셜뉴스

입력 2010.08.09 13:19

수정 2010.08.09 13:19

바른전자는 미세구조물의 잔류 응력 시험 패턴에 대한 특허를 취득했다고 9일 공시했다.


바른전자는 이번 특허기술을 최신 스마트폰, 차량용,모바일용 내비게이션, 휴대폰 게임기, 노트북 등에 사용되는 MEMS 가속도센서 개발 일정 단축 등에 활용할 계획이다.

/kwkim@fnnews.com 김관웅기자