中에 넘긴 '반도체 검사 핵심부품' 기술...전 직원 3명 재판행

대전공소청·지식재산처 공조...검사 수사권 폐지 뒤 특사경 통해 보완수사

[파이낸셜뉴스] 국내 업체의 반도체 검사 부품 첨단기술을 중국 업체에서 제품 개발에 쓴 전 직원 3명이 재판에 넘겨졌다. 검사의 직접 수사권이 사라진 뒤 공소청이 특별사법경찰을 통해 보완수사를 벌여 혐의를 추가한 사건이다.

대전지방공소청 중대범죄기소2부(허윤희 부장검사)는 산업기술의 유출방지 및 보호에 관한 법률 위반과 부정경쟁방지 및 영업비밀보호에 관한 법률 위반 혐의로 A씨(45)를 구속기소하고 B씨(40)와 C씨(40)를 불구속기소했다고 14일 밝혔다. 기소는 지난 8일 이뤄졌다.

공소청에 따르면 이들 3명은 국내 프로브카드 업체 D사에서 경영지원팀장과 엔지니어로 일하다 퇴직한 뒤 2023년 설립된 중국 E사로 옮겼다. A씨는 E사 부장으로 외주 설계 등 공정 설계를 총괄했고, B씨와 C씨는 차장으로 각각 포토 공정과 에칭 공정 설계를 맡았다.

이들은 지난해 4월부터 9월까지 E사가 자체 프로브카드를 개발할 목적으로 D사의 설계도면 등 기술자료를 활용해 외주 설계업체 F사를 통해 개발을 진행한 혐의를 받는다. A씨는 이 과정에서 6차례에 걸쳐 E사와 F사 임직원에게 이메일로 D사 기술자료를 보낸 혐의도 받는다.

프로브카드는 반도체 칩이 패키징되기 전 웨이퍼 상태에서 개별 칩의 전기적 불량 여부를 검사하는 데 쓰이는 핵심 부품이다. 특히 고대역폭 메모리(HBM) 반도체는 칩을 쌓기 전 불량을 가려내야 해 프로브카드의 역할이 더 크다. D사는 첨단 반도체용 프로브카드 국산화에 성공한 몇 안 되는 국내 업체로, 미국·일본 업체와 경쟁하며 세계적 반도체 기업에 납품해 왔다.

공소청은 이들이 사용한 자료 대부분이 설계도면과 시뮬레이션 자료 등 첨단기술에 해당한다고 판단했다. 중국 경쟁사의 첨단 프로브카드 생산이 앞당겨질 경우 피해 회사에 회복하기 어려운 손해가 불가피하다고도 봤다.

수사는 지식재산처 특별사법경찰이 지난 2024년 12월 국가정보기관의 첩보를 받아 시작했다. 지식재산처는 올해 2~9월 압수수색과 출국금지, 증거 분석을 진행했고 지난달 15일 세 사람에 대한 구속영장을 신청했다. 대전지방공소청이 영장을 청구해 같은 달 18일 A씨만 발부받았다. 구속 전 피의자 심문에는 이공계 출신 검사가 직접 들어가 기술 설명을 곁들여 구속 필요성을 밝혔다. 세 사람은 지난달 23일 송치됐다.

산업기술보호법 위반 혐의는 송치 뒤 붙었다. 공소청은 지난 1일 3명을 조사해 이들이 쓴 기술자료가 같은 법상 산업기술에 해당한다는 점을 확인하고 혐의를 추가로 인지했다. 검사의 직접 수사권이 사라진 지난 2일 이후로는 지식재산처 특사경을 통해 기술자료를 추가 분석했다.

공소청 관계자는 "공소유지에 최선을 다하겠다며 앞으로도 지식재산처와 국가정보원 산업기술보호센터 등 유관기관과 협력해 기술유출 범죄에 엄정 대응하겠다"고 전했다.

[email protected] 김동규 기자